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Role-of-Sample-Preparation-in-Spectroscopic-analysis-AR25.pdf

上传人: 小溪 编号:1165291 2026-03-14 31页 2.03MB

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1. **核心重要性**:样品制备是光谱分析(Spark OES/ICP/XRF)的关键环节,直接影响准确性、重现性和灵敏度。 2. **挑战**:样品变异性、表面污染、非标准化流程及物理化学变化(如挥发损失、降解)是主要问题。 3. **技术对比数据**: - **Spark OES**: proper milling使Ag、Cu杂质标准差从2.73/1.66降至1.95/1.07 ppm。 - **ICP**:微波消解proper处理使Fe杂质误差从55ppm降至10ppm( improper为55ppm)。 - **XRF**:机械研磨后Au杂质标准差从0.641%降至0.028%,表面粗糙度显著影响强度。 4. **最佳实践**:确保样品均一性、平整光滑表面(避免阴影效应)、控制污染、使用高纯材料及标准化流程。
**样品 prep 关键?** **误差如何避免?** **表面处理重要吗?**
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