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机械行业半导体设备研究系列之明暗场缺陷检测设备:一“明”一“暗”检缺陷相辅相成提良率-221209(17页).pdf

上传人: 数*** 编号:109154 2022-12-12 17页 1.23MB

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本文主要介绍了半导体设备研究系列之明暗场缺陷检测设备。明场和暗场检测是半导体晶圆制造中的重要检测环节,对提高产品良率、降低生产成本、推进工艺迭代具有重要作用。明场检测技术难度和系统复杂程度更高,主要用于有图形晶圆的缺陷检测。暗场检测技术则主要用于无图形晶圆的缺陷检测。2021年,全球前道量检测设备市场规模为104亿美元,占半导体设备市场的11%。其中,缺陷检测设备在前道量检测市场占比高达55%,有图形晶圆检测设备市场占比约34%。目前,半导体量检测设备市场主要由国外厂商垄断,但国内厂商如上海精测、中科飞测等已初露头角,开始布局相关业务。
半导体设备研究系列之明暗场缺陷检测设备有何不同? 精测电子在明场缺陷检测设备领域有何突破性进展? 中科飞测在晶圆缺陷检测设备方面有何技术优势?
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