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利用 GenAI_ML 进行 OCP 错误分类:优化测试错误分类周期.pdf

上传人: 明**** 编号:1011335 2025-12-21 19页 1.30MB

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根据文章内容,以下是全文主要内容的简明概括: 1. **NPI阶段硬件故障的普遍性**:硬件故障是设计、测试和验证过程中的必然部分。 2. **日志生成**:每次新平台测试后,都会生成数千条日志。 3. **错误分类问题**:手动映射新错误签名到现有类型耗时且需要专业知识,难以识别新类型,缺乏可扩展性和灵活性。 4. **目标**:开发基于大量数据的模型,用于自动化和优化错误分类过程。 5. **Gen AI方法**:包括LLM提示、语义搜索和模型微调。 6. **案例研究**:在7.2k条日志上进行的案例研究,使用CoD方法取得了高准确性和一致性。 7. **性能比较**:CoD在准确性和一致性方面优于零样本提示和思维链。 8. **DRAMA检索器**:在考虑上下文信息、推理和适应不同领域方面更有效。 9. **自动化错误分类的好处**:标准化错误日志和可重用错误签名,提高准确性。 10. **未来工作**:自动化反馈循环,实现完全动态的系统。
NPI错误分类优化" 测试错误分类新突破" GenAI在NPI中的应用"
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